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您現(xiàn)在的位置�首頁(yè) / �(chǎn)品展�
帕納科XRF光譜儀Epsilon 4
�(chǎn)品型�(hào)� �(chǎn)品描述: �(cè)試參�(shù)�
�(chǎn)品描�

快�、準(zhǔn)確的原位元素分析
借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經(jīng)�(yàn)打造而成,Epsilon 4 是一款多功能�(tái)� XRF 分析儀,廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各�(gè)�(lǐng)域中需要從� (F) 到镅 (Am) 元素分析的行�(yè)�(xì)分市�(chǎng)� Epsilon 4 將激�(fā)和檢�(cè)技�(shù)與成熟軟件和智能�(shè)�(jì)相結(jié)�,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀�
�(duì)于傳�(tǒng)上由 ICP � AAS �(lái)�(shí)�(xiàn)的復(fù)雜應(yīng)�,這提供了一�(gè)�(jiǎn)單易行的替代方案。通過(guò)� XRF 光譜儀放置在線旁邊,嘗試�(jìn)行現(xiàn)�(chǎng)或在� XRF �(jiān)控,您的反饋�(shí)間將從幾小時(shí)縮短到幾分鐘� 
Epsilon 4 光譜儀具有高靈活�,適用于廣泛的應(yīng)�� 隨時(shí)�(zhǔn)備為您價(jià)��
帕納�XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散� X-射線熒光光譜儀|多功能臺(tái)� XRF 分析儀概述�
◆Epsilon 4 安裝要求�(jiǎn)�
由于較低的基�(chǔ)�(shè)施要�,可以將 Epsilon 4 放到�(guò)程中靠近線的廣泛位置� 其高性能使大多數(shù)�(yīng)用能夠在�(huán)境條件下�(yùn)�,從而降低氦氣或真空維護(hù)的成本�
◆越分析的價(jià)�
能量色散� X-射線熒光光譜儀可分析從� (C) 到镅 (Am) 的元�,涵蓋從百萬(wàn)分之一以下� 100 wt% 的濃�� 
Omnian 用于�(wú)�(biāo)分析,當(dāng)需要快速分析鑒定時(shí),則使用 FingerPrint �(lái)�(jìn)行材料測(cè)試,或者使� Stratos �(lái)�(duì)涂層、表面層和多層結(jié)�(gòu)�(jìn)行快速、簡(jiǎn)單和非破壞性的分析� 還可以使用支持與 FDA 21 CFR � 11 部分等法�(guī)合規(guī)的增�(qiáng)的數(shù)�(jù)�,或者使� Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新�(rùn)滑油和使用過(guò)的潤(rùn)滑油�
◆高樣品兼容�
Epsilon 4 �(duì)于不同形�(tài)的樣品都游刃有余,典型樣品如粉末、液 體和固體??梢�?yīng)用于從水泥到纖維等不同類型產(chǎn)品的元素成分分析。如果沒(méi)有標(biāo)�(zhǔn)物質(zhì)可用或樣品種類太�,馬爾文帕納科無(wú)�(biāo)分析解決方案將為您提供快速可靠的分析�(jié)��
Epsilon 4 是穩(wěn)�、可靠的傳統(tǒng)系統(tǒng)替代方案,已在許多行�(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛�(yīng)�,甚至在輕元素分析為重要的環(huán)境中,包括:水泥、采�、選�、鋼鐵及有色金屬、RoHS 篩選及定�、石油和石化、聚合物及相�(guān)行業(yè)、玻�、法�(yī)�(xué)、制�、保健產(chǎn)�、環(huán)�、食品和化妝��
帕納�XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散� X-射線熒光光譜儀|多功能臺(tái)� XRF 分析儀特點(diǎn)�
◆靈活的配置
Epsilon 4 是高度靈活的分析工具,可� 10 瓦版本中用于從研�(fā)到過(guò)程控制等各�(gè)�(lǐng)域的元素分析 (F - Am)� 要實(shí)�(xiàn)更高的樣品處理量或擴(kuò)展的輕元素功能,并且處于更加具有挑戰(zhàn)性的�(huán)�,可以使� 15 瓦版本,甚至可以�(duì)�、氮和氧�(jìn)行分��
◆新�(fā)�
Epsilon 4 儀器將射線探測(cè)技�(shù)與分析軟件結(jié)合到了一起� 15 � X 射線管與大電� (3 mA)、硅漂移探測(cè)� SDD30 以及緊湊的光路設(shè)�(jì)相結(jié)�,提供了甚至�(guò) 50 瓦功� EDXRF 系統(tǒng)以及�(tái)� WDXRF 系統(tǒng)的分析性能 - 同時(shí)還額外提高了能源利用效率�
◆迅速、靈�
利用可生成更高強(qiáng)度的硅漂移探�(cè)器技�(shù)�(shí)�(xiàn)迅速測(cè)��
探測(cè)器電路提供的線性計(jì)�(shù)率可�(guò) 1,500,000 cps(在 50% 的死�(shí)間下�,和�(jì)�(shù)率無(wú)�(guān)的分辨率通常高于 135 (eV@300 kcps�,可更好地對(duì)鄰近譜線�(jìn)行分雀強(qiáng)有力的探�(cè)性能使得 Epsilon 4 能譜儀越了傳統(tǒng)�(tái)式儀�,實(shí)�(xiàn)了更快的�(cè)試響�(yīng)和更低的檢出�� 這使� Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率�(yùn)�,因此與傳統(tǒng)� EDXRF �(tái)式儀器相�,實(shí)�(xiàn)了更高的樣品通量�
◆降低氦氣消耗量
Epsilon 4 的高性能使得許多�(yīng)用可以在空氣�(huán)境中�(yùn)�,從而減少了氦氣和真空的使用成本和切換時(shí)�� 在空氣中�(cè)量時(shí),鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子�(duì)氣壓和溫度變化很� �(nèi)置溫度和氣壓傳感器可�(bǔ)償這些大氣變化,尋求在各種氣候條件下檢測(cè)的結(jié)果不受影響�
行業(yè)版本�○礦�(yè)和礦�(chǎn)○石油和燃油○潤(rùn)滑油○制藥和化妝品○食品與環(huán)境○建筑材料○聚合物、塑料和油漆

帕納�XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散� X-射線熒光光譜儀|多功能臺(tái)� XRF 分析儀參考技�(shù)指標(biāo)�

樣品處理

射線�

檢測(cè)�

軟件

具備 10 �(gè)位置的可移動(dòng)樣品交換�

�(wěn)定性高的金屬陶瓷側(cè)�

高分辨率硅漂移探�(cè)� (SDD),通常� 135 eV @ Mn-Kα

通過(guò) Omnian �(wú)�(biāo)分析解決方案,�(jìn)行元素篩�

光譜儀多可容納直徑 52 毫米�英寸)的樣品

50 微米薄鈹窗,�(duì)輕元素高度(Na�Mg�AlSi

大計(jì)�(shù)� 1,500,000 c/s(在 50% 的死�(shí)間下�

通過(guò) FingerPrint 解決方案,�(jìn)行合�/不合格分�

包含自旋器,以提高空氣濾清器分析的準(zhǔn)確�

Ag �(yáng) X 射線光管,獲� P� Cl 分析的佳性能

薄入探測(cè)器射窗,高靈敏度

在監(jiān)管環(huán)境下,增�(qiáng)�(shù)�(jù)�

大樣品模式大可分析高 10 cm 的較大樣�



用于多層樣品� Stratos




使用 Oil-Trace,在新潤(rùn)滑油和使用過(guò)的潤(rùn)滑油中對(duì)磨損金屬�(jìn)行靈活校�(zhǔn)


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