利用成熟� Gemini 電子光學(xué)元件,將佳的分析性能與場�(fā)射掃描技�(shù)相結(jié)�。多種探測器可選:用于顆�、表面或者納米結(jié)�(gòu)成像。Sigma 半自�(dòng)�4步工作流程節(jié)省大量的�(shí)間:�(shè)置成像與分析步驟,提��
Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測�,可快速方便地�(shí)�(xiàn)基礎(chǔ)分析。樣品均可獲得更精準(zhǔn)可重�(fù)的分析結(jié)��

蔡司場發(fā)射掃描電�Sigma系列落地式掃描電子顯微鏡特點(diǎn)�
l用于清晰成像的靈活探�
*利用探測�(shù)為您的需求定� Sigma,表征所有樣品�
*利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信��
*利用新一代的二次探測�,獲取高�(dá)50%的信�(hào)圖像。在可變壓力模式下利� Sigma � C2D � 可變壓力探測�,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%�(duì)比度的銳利的圖像�
l自動(dòng)化加速工作流�
*4步工作流程讓您控� Sigma 的所有功�。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培�(xùn)先,先對(duì)樣品�(jìn)行導(dǎo)�,然后設(shè)置成像條件�
*�,先�(duì)樣品�(jìn)行導(dǎo)航,然后�(shè)置成像條件�
*接下來對(duì)樣品感興趣的區(qū)域�(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。后使用工作流程的后一步,將結(jié)果可視化�

l分析型顯微鏡
*將掃描電子顯微鏡與基本分析相�(jié)合:Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是�(duì)電子束的樣品�
*在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)�(jù)�
*獲益�8.5 mm 短的分析工作距離�35°夾角,獲取完整且無陰影的分析�(jié)��